SURFCOM
分析参数可以基于JIS(2001/1994/1982)、ISO、DIN、ASME、CNOMO等各国规格选择参数，使用语言有日语、英语、德语、法语、意大利语、西班牙语可供选择，供电电源可使用AC100~240V。本测量机通过了欧洲的安全规格CE标志》；仅显示必要的图标。
采用个性化功能，可以只选择使用频度高的图标，自由进行图标配置，由此来制作操作者忖用的菜场单，可进行高效率的测量作业。仅输入图纸上的数值即可进行测量的AI功能(已获得专利)。装载有AI功能，只需要输入加工图纸上所记载的参数及容许值的条件，便可以自动选择最佳的取样长度、测量范围等测量条件来进行测量。显示测量步骤的引导功能，此功能可显示测量程序，以便使初次使用测量机的人也能顺利进行操作，用于数据整理的便利的记录功能。
用触摸笔可以把记录画面上书的简单图形、文字如实地记录并打印到记录纸上。
满足各种需求的多种多样分析功能，装载有Ra、Rz、Ry、Sm、S、tP等共34种粗糙度、32种波纹度的分析参数。可以进行电气零部件的段差、膜厚以及面积等的分析。
倾斜偿功能，装载有直线、前半、后半、两端、R面、花键曲线(已获得专利)等6种自动倾斜补偿功能。评价范围的任意设定(已获专利)。
用2条光标选择画面上的波形数据，可以设定任意的评价范围、进行各参数的运算。
备有PC卡插槽，可管理测量条件及测量结果，以二进制格式和文本格式输出测量数据。从电脑的PC卡插槽很容易读取。
规格 型号 | SURFCOM 480A |
测量范围 | X轴(横向) | 100mm | Y轴(纵向) | 800mm(测量范围/分辩率：800mm/10nm、80mm/1nm、8mm/0.1nm) | 直线度精度 | (0.05+1.5L/1000) mm =测量长度(mm) |
分析项目 | 使用规格 | JIS-2001,JIS-1994,JIS-1982,ISO-1997,ISO-1984.DIN-1990,ASME-1995,CNOMO规格 | 参数 | Ra,Rq,Ry,Rp,Rv,Rc,Rz,Rmax.Rt,Rz.J.R3z.Sm.S.R△q.Rla.Rlq. TLL T A.lr.Pc.Rsk.Rku.Rk.Rpk.Rvk.Mr1.Mr2.Vo.K.tp.Rmr.tp2.Rmr2.Rdc AVH.Hmax.Hmin.AREA.NCRX.R.Rx.AR.NR.CPM.SR.SAR | 评价曲线 | 剖面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波中心线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆中心线波纹度曲线、DIN4776特殊曲线、粗糙度中心曲线(Motif)、波纹度中心曲线(Motif)、包络波纹度曲线 | 表面特性图表 | 负荷曲线、功率谱曲线图、振幅分布曲线 | 倾斜补偿方式 | 直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、花键补偿、(直线、R面、两端补偿可以在任意范围内) | 倍率 | 纵倍率(Z轴) | 50、100、200、500、1K、2K、5K、10K、100K、200K＊、500K＊倍、自动 | 横倍(X轴) | 1、2、5、10、20、50、100、200、500、1K、2K、自动 | 滤波器的种类 | 标准型滤波器2RC、相位补偿型滤波器2RC、相位补偿型滤波器(高斯滤波器) | 测量速度 | 0.03、0.06、0.1.5、0.30 、0.60、1.5 、3、6mm/s(4速) | 传感器 | 前端半径2mm、材质为金刚石、测量力为0.75mN | 测量AI 先进的功能 |
| 装载有测量AI功能、即使初学者也可容易掌握 | 段差分析功能 | 最适于测量半导体零部件的膜厚及面积 | PC卡 | 输出文本文件、将数据传送至电脑 | 标准配件 | 标准片E-MC-S24B、记录纸(E-CH-S21A)、触摸笔(E-MA-S54A)操作说明书 |
各要素 | 电源 | AC100~240V±10%、50/60Hz、90VA | 设置尺寸 | 1000(W)＊800(D)＊750(H)mm | 质量 | 105Kg |
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已验证
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