产品详细说明:
N7788B 光元器件分析仪主要特性与技术指标
主要优势
- 通过单次扫描实现最高精度: 无需通过多次扫描计算平均值
- 高测量速度
- 10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量(无需等待多个平均值)
- 稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响
描述
安捷伦制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制, 其专有技术可与著名的琼斯矩阵本征法(JME)相媲美,琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散(PMD)或差分群时延(DGD)的标准方法。
安捷伦新的单次扫描技术具有一系列优点,可用于测试全套参数:
· DGD/ PMD
· PDL
· 功率/损耗
· TE/TM 损耗
· 二阶 PMD
· 主偏振态(PSP)
· 琼斯和米勒矩阵
用于生产车间的设计
高吞吐量: 在 10 秒钟内对 C 和 L 频带进行全面分析!
软件驱动程序: 为系统的外部控制提供一系列软件驱动程序。 这有助于通用 ERP 系统中的轻松集成。
远程控制: 支持通过 LAN 或互联网对仪器进行控制, 实现自动操作和故障诊断。
报告生成: 支持生成 PDF 格式的报告。 用户可以配置所有的内容(包括版图)。
实时功率读数: 提供实时功率读数(支持新器件的光纤耦合),可以对非连接的器件进行高吞吐量测量。
条形码扫描仪: 支持使用条形码扫描仪快速传输被测器件的序列号。